首页> 中国专利> 通过传感器线圈的电阻和电感测量来无接触测定层厚度的方法

通过传感器线圈的电阻和电感测量来无接触测定层厚度的方法

摘要

本发明涉及一种在待测构件(17)的附近定位一个由一个线圈体(13)和一个线圈(14)组成的传感器来无接触测定构件(17)的由导电材料制成的层(20)的厚度的方法,该方法基于感应和涡流原理的组合。多个测量和分析步骤可确定层(20)的厚度,在这些步骤中,用交流电频率f作用到线圈(14)上并分析该线圈的电感值和电阻值。在此,线圈体(13)、即线圈(14)与构件(17)之间的距离可从作用有交流电频率f的线圈(14)的电阻值R中导出。

著录项

  • 公开/公告号CN100565091C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 罗伯特·博世有限公司;

    申请/专利号CN200580023868.2

  • 发明设计人 H·哈赫特尔;S·迈尔;

    申请日2005-06-23

  • 分类号G01B7/06(20060101);

  • 代理机构72001 中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人曹若;胡强

  • 地址 德国斯图加特

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:36

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-07-13

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01B 7/06 授权公告日:20091202 终止日期:20170623 申请日:20050623

    专利权的终止

  • 2009-12-02

    授权

    授权

  • 2009-12-02

    授权

    授权

  • 2007-09-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-09-26

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-06-20

    公开

    公开

  • 2007-06-20

    公开

    公开

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