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一种加速器质谱装置及加速器质谱14C测量方法

摘要

本发明提供了一种基于低能散RFQ加速器的加速器质谱装置及相应的加速器质谱14C测量方法,属于加速器质谱技术领域。该加速器质谱装置包括:离子源、聚束器、RFQ加速器、电子剥离器、高能分析系统以及探测器,上述部件按顺序联接,RFQ加速器分别将14C、12C、13C离子加速到一定能量以进行电子剥离,可消除分子离子干扰。本发明用低能散的RFQ加速结构作为14C测量加速器质谱(AMS)系统中的离子加速装置,通过交替改变馈入RFQ加速器的射频功率实现14C、12C、13C三种离子的交替加速。不需要传统AMS中的钢筒、绝缘气体、交替注入系统等,整体结构简化。

著录项

  • 公开/公告号CN100561221C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-11-18

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京大学;

    申请/专利号CN200510086258.9

  • 申请日2005-08-19

  • 分类号G01N33/00(20060101);G01N27/00(20060101);B01D59/44(20060101);H01J49/42(20060101);

  • 代理机构北京君尚知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人贾晓玲

  • 地址 100871 北京市海淀区颐和园路5号

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-10-16

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01N 33/00 授权公告日:20091118 终止日期:20120819 申请日:20050819

    专利权的终止

  • 2009-11-18

    授权

    授权

  • 2007-04-18

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-02-21

    公开

    公开

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