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支持开放架构测试系统中的校准和诊断

摘要

一种用于将测试模块集成在模块化的测试系统中的方法,包括:创建用于集成厂商供给的测试模块的部件类别,以及创建用于在所述厂商供给的测试模块和所述模块化的测试系统之间建立标准接口的校准和诊断(C&D)框架,其中所述C&D框架包括传递厂商供给的模块集成信息的接口类。该方法还包括接收厂商供给的测试模块;根据所述部件类别从所述厂商供给的测试模块中检索模块集成信息;以及使用所述C&D框架基于所述模块集成信息将所述厂商供给的测试模块集成到所述模块化的测试系统中。

著录项

  • 公开/公告号CN100580473C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2010-01-13

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 株式会社爱德万测试;

    申请/专利号CN200580016355.9

  • 申请日2005-05-23

  • 分类号

  • 代理机构北京集佳知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨生平

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:34

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-07-08

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01R 31/319 授权公告日:20100113 终止日期:20140523 申请日:20050523

    专利权的终止

  • 2010-01-13

    授权

    授权

  • 2007-08-08

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-06-13

    公开

    公开

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