首页> 中国专利> 一种微电子刻蚀系统中受控部件的异常监测装置及方法

一种微电子刻蚀系统中受控部件的异常监测装置及方法

摘要

本发明所述的一种微电子刻蚀系统中受控部件的异常监测装置及方法,获取各受控部件的工作状态参数,并根据受控部件检测单元检测到的各受控部件的工作状态参数,与设定的相应受控部件的安全工作状态参数进行比较,判别所述的受控部件是否工作正常,如不正常则输出关于相应受控部件异常的报警信息。根据本方法中抛出的告警信息指示维护人员检查相应受控部件,从而避免生产出不良的工艺产品。同时,需要监测的受控部件的输入输出通道可以灵活配置,在很大程度上降低了微电子刻蚀系统受控部件的异常误判和误发漏判,并且非常容易的查处故障的受控部件。

著录项

  • 公开/公告号CN100573814C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-12-23

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200610113335.X

  • 发明设计人 付金生;熊坤;

    申请日2006-09-22

  • 分类号H01L21/00(20060101);H01L21/3065(20060101);H01L21/66(20060101);G01M19/00(20060101);G05B19/048(20060101);C23F4/00(20060101);

  • 代理机构11260 北京凯特来知识产权代理有限公司;

  • 代理人郑立明;李丽娟

  • 地址 100016 北京市朝阳区酒仙桥东路1号M5座2楼

  • 入库时间 2022-08-23 09:03:30

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-11-10

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更 IPC(主分类):H01L 21/00 变更前: 变更后: 申请日:20060922

    专利权人的姓名或者名称、地址的变更

  • 2009-12-23

    授权

    授权

  • 2009-12-23

    授权

    授权

  • 2008-05-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-05-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2008-03-26

    公开

    公开

  • 2008-03-26

    公开

    公开

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