公开/公告号CN112198176B
专利类型发明专利
公开/公告日2022.12.02
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN202011014594.3
申请日2020.09.24
分类号G01N23/2055;
代理机构上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙);
代理人张宁展
地址 201800 上海市嘉定区清河路390号
入库时间 2022-12-29 02:03:09
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-12-02
授权
发明专利权授予
机译: 用高阶谐波X射线产生高阶谐波X射线和针形衍射干涉仪的装置和方法
机译: 从初始化操作基于第一和第二次来控制放射线传感器的状态的控制装置,放射线成像装置,放射线成像系统和放射线成像装置的控制方法
机译: X射线衍射衍射光栅,X射线衍射衍射光栅,X射线干涉仪和X射线相位成像装置的制造方法