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用于测量物体尺寸的装置和测量物体尺寸时用的度盘

摘要

一种度盘,其具有布置成矩阵且成点对称形状的标记。将该度盘和准备测量尺寸的物体固定使之没有任何相对运动。图象传感器单元选择性地和连续地检测物体的预定部位和与物体的预定部分相对应的度盘标记,图象传感器单元根据对物体和度盘检测结果产生输出信号。对输出信号进行处理并计算物体的尺寸。

著录项

  • 公开/公告号CN1057831C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2000-10-25

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本EM株式会社;

    申请/专利号CN95108571.9

  • 发明设计人 星山浩树;

    申请日1995-05-31

  • 分类号G01B11/02;G01B11/14;G01B11/26;G01D13/02;

  • 代理机构中国专利代理(香港)有限公司;

  • 代理人马铁良

  • 地址 日本静冈县

  • 入库时间 2022-08-23 08:55:15

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2004-07-28

    专利权的终止未缴年费专利权终止

    专利权的终止未缴年费专利权终止

  • 2000-10-25

    授权

    授权

  • 1997-05-21

    实质审查请求的生效

    实质审查请求的生效

  • 1996-06-05

    公开

    公开

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