公开/公告号CN114234863B
专利类型发明专利
公开/公告日2022.11.15
原文格式PDF
申请/专利权人 三代光学科技(天津)有限公司;
申请/专利号CN202210165575.3
申请日2022.02.23
分类号G01B11/30;
代理机构北京云嘉湃富知识产权代理有限公司;
代理人孙慧
地址 300000 天津市滨海新区滨海高新区滨海科技园日新道188号1号楼1126号
入库时间 2022-11-28 17:57:41
机译: 测量工业表面的粗糙度和形状偏差-使用反射原理并比较记录的强度分布与通过光路获得的图案进行统计评估
机译: 背光系统的光源,例如LED,一种用于液晶显示屏的均匀结构,其基板表面的粗糙度由高斯滤光片产生的粗糙度轮廓定义,该粗糙度具有特定的截止值和测量长度
机译: 用于表面粗糙度或物体偏转的干涉测量系统-具有用于使反射光束在测量光束路径中偏转的探头,并在光检测器之前具有干涉式孔径,该孔径用于存储光源和反射器的成像以及不均匀性。