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光学系统透过率检测装置及其透过率和反射率检测方法

摘要

本发明提供了一种光学系统透过率检测装置及其透过率和反射率检测方法,光学系统透过率检测装置包括光路调整单元、探测光测量单元和参考光测量单元,光路调整单元包括分光镜、小孔光阑和反射器,分光镜用于将入射光分为透射的初次探测光和反射的参考光,小孔光阑和反射器相配合用于根据需要对初次探测光进行反射形成反射探测光;探测光测量单元用于对反射探测光进行检测;参考光测量单元用于对参考光进行检测;探测光测量单元、参考光测量单元、分光镜和小孔光阑位于待测光学元件的同一侧。本发明的技术方案能够集中关键探测部件,优化探测布局,便于实现电气一体化设计,且能够提高测量精度。

著录项

  • 公开/公告号CN113655033B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022.11.04

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海微电子装备(集团)股份有限公司;

    申请/专利号CN202010368195.0

  • 发明设计人 李天鹏;侯宝路;

    申请日2020.04.30

  • 分类号G01N21/55;G01N21/59;G01M11/02;

  • 代理机构上海思捷知识产权代理有限公司;

  • 代理人王宏婧

  • 地址 201203 上海市浦东新区张东路1525号

  • 入库时间 2022-11-28 17:54:09

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-11-04

    授权

    发明专利权授予

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