未知样品层结构深度剖析方法

摘要

本发明检测技术领域，特别涉及一种未知样品层结构深度剖析方法，通过获取未知样品的第一数据组，设立预设初始参数，接下来在根据预设初始参数获取该未知样品的第二数据组，然后判断第二数据组与预设值是否相同，当第二数据组与预设值不同时，则优化初始预设参数，使得预设值与第二数据组相同。通过分别获取第一数据组以及第二数据组，并且判断第二数据组中的数据与预设值是否相同，通过判断第二数据组与预设值是否相同，使得本发明能够准确判断对该未知样品的剖析效果，解决了相关技术中存在的无法准确判断对该未知样品的剖析效果的缺陷。