一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法

摘要

本发明提供一种同时测量同位素丰度与杂质含量的质谱系统与方法，质谱系统包括：离子源系统，用于进样和引出多电荷态的离子束流；加速度子系统，用于对多电荷态离子进行加速、同时将多电荷态离子在能量和动量进行聚焦和分析；以及探测器子系统，用于检测同位素离子的束流、区分两种同量异位素以及区分两种具有相同质荷比的离子。本发明利用多电荷态的电子回旋共振离子源能够瓦解所有分子离子，利用薄膜吸收技术和单粒子能量探测技术能够分辨同量异位素离子，从而显著提高了同位素丰度测量的灵敏度，降低了对每一种元素的检测下限，能够实现材料或样品中同位素丰度比值和杂质含量的同时、准确以及快速测量。