首页> 中国专利> 有机硅氧烷共聚物膜、其制造方法以及生长装置和使用该共聚物膜的半导体装置

有机硅氧烷共聚物膜、其制造方法以及生长装置和使用该共聚物膜的半导体装置

摘要

本发明提供适用于分离半导体装置的多层铜布线的、在与基底或者上层的无机绝缘膜连接的界面上机械强度和密合性优良并且作为整个膜的实际相对介电常数较低的绝缘性有机聚合物膜,该绝缘性有机聚合物膜是以环状硅氧烷和直链状硅氧烷为原料,通过等离子体激发使两者聚合而成的有机硅氧烷共聚物膜,其中在与无机绝缘膜连接的界面上其膜组成以直链状硅氧烷成分为主要成分,从而设置致密并且密合性优良的膜质的界面层,在膜内部,内部具有被环状硅氧烷骨架包围的空穴的环状硅氧烷成分和直链状硅氧烷成分混合存在,具有密度较低的网状结构的层,在上述的膜厚方向上具有组成变化的共聚物膜上形成有埋入铜薄膜的多层布线。

著录项

  • 公开/公告号CN100524647C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-08-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日本电气株式会社;

    申请/专利号CN03821732.5

  • 发明设计人 林喜宏;

    申请日2003-07-15

  • 分类号H01L21/312(20060101);C08F230/08(20060101);C08F236/22(20060101);C08G61/12(20060101);C23C14/12(20060101);H01L21/768(20060101);

  • 代理机构11021 中科专利商标代理有限责任公司;

  • 代理人汪惠民

  • 地址 日本东京都

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:57

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2015-04-01

    专利权的转移 IPC(主分类):H01L 21/312 变更前: 变更后: 登记生效日:20150311 申请日:20030715

    专利申请权、专利权的转移

  • 2009-08-05

    授权

    授权

  • 2005-12-07

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-10-12

    公开

    公开

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