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探测器表面响应特性测试仪及其测试方法

摘要

一种探测器表面响应特性测试仪及其测试方法,该测试仪包括光学聚焦系统、XY两轴位置控制平台、信号放大与采集系统、控制与显示系统。由计算机分别连接并控制I/O端口和A/D转换器,I/O端口分别连接并控制X、Y轴步进电机驱动电路和半导体激光器,X、Y轴步进电机驱动电路分别连接并控制X、Y轴步进电机,从而控制二维位移平台,半导体激光器的光束经过设有直径0.1mm小孔的聚焦镜筒形成<0.1mm直径的光斑,光斑照射于设在XY二维位移平台上的探测器表面使其产生响应的电信号,探测器表面经放大器连接A/D转换器,电信号经放大器放大后,由A/D转换器转换为数据信号送计算机处理。

著录项

  • 公开/公告号CN100507459C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海理工大学;

    申请/专利号CN200510025497.3

  • 申请日2005-04-28

  • 分类号G01D21/00(20060101);G01R31/00(20060101);H01L31/00(20060101);H01L31/09(20060101);

  • 代理机构31001 上海申汇专利代理有限公司;

  • 代理人吴宝根

  • 地址 200093 上海市杨浦区军工路516号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:52

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-06-19

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01D 21/00 授权公告日:20090701 终止日期:20120428 申请日:20050428

    专利权的终止

  • 2009-07-01

    授权

    授权

  • 2005-12-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2005-10-26

    公开

    公开

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