首页> 中国专利> 超短脉冲频率分辨光学开光法测量装置

超短脉冲频率分辨光学开光法测量装置

摘要

一种超短脉冲频率分辨光学开光法测量装置,该装置仅利用一块1×2反射式达曼光栅,还包括第一反射镜、第二反射镜、第三反射镜、计算机控制的微动台、透镜、非线性晶体和光谱仪,本发明仅用一块反射达曼光栅和三块反射镜实现了超短脉冲光测量,从而消除了传统的透/反射式光分束器对脉冲光的影响,同时达曼光栅的制造技术与微电子加工技术相兼容,因此具有易加工、成本低的优点。

著录项

  • 公开/公告号CN100514013C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN200610028424.4

  • 发明设计人 戴恩文;周常河;

    申请日2006-06-30

  • 分类号G01J11/00(20060101);

  • 代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;

  • 代理人张泽纯

  • 地址 201800 上海市800-211邮政信箱

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:49

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2013-08-21

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 11/00 授权公告日:20090715 终止日期:20120630 申请日:20060630

    专利权的终止

  • 2009-07-15

    授权

    授权

  • 2007-02-28

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-03

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号