公开/公告号CN100514013C
专利类型发明授权
公开/公告日2009-07-15
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院上海光学精密机械研究所;
申请/专利号CN200610028424.4
申请日2006-06-30
分类号G01J11/00(20060101);
代理机构31213 上海新天专利代理有限公司;
代理人张泽纯
地址 201800 上海市800-211邮政信箱
入库时间 2022-08-23 09:02:49
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2013-08-21
未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G01J 11/00 授权公告日:20090715 终止日期:20120630 申请日:20060630
专利权的终止
2009-07-15
授权
授权
2007-02-28
实质审查的生效
实质审查的生效
2007-01-03
公开
公开
机译: 高分辨率实时时频域测量装置和用于超短脉冲的方法
机译: 扫描角度分辨反射测量法,并从光学计量中算法消除衍射
机译: 扫描角度分辨反射测量法,并从光学计量中算法消除衍射