首页> 中国专利> 一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法

一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法

摘要

本发明涉及非晶条带钝化膜转变电位的技术领域,尤其涉及一种利用恒电流法测试非晶条带钝化膜转变电位的方法,包括如下步骤:将非晶条带置于三电极工作站中,测试TAFEL曲线,得到钝化平台,从钝化平台上选取电位值点;针对选取的电位值点,按照恒电流法测试,得到非晶条带的转变电位。本发明扩大了铁基合金以及非晶材料的应用领域,可以将非晶运用到更多的实际生产中,发挥非晶合金更大的作用,使其具有更大的应用前景。

著录项

  • 公开/公告号CN112461910B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-05-06

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 山东大学;

    申请/专利号CN202011077799.6

  • 发明设计人 王伟民;张昊;闫芝成;

    申请日2020-10-10

  • 分类号G01N27/416;

  • 代理机构

  • 代理人

  • 地址 250061 山东省济南市历下区经十路17923号

  • 入库时间 2022-08-23 13:36:08

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-05-06

    授权

    发明专利权授予

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号