首页> 中国专利> 控制磁致电阻传感器的自由层中的磁致伸缩的方法

控制磁致电阻传感器的自由层中的磁致伸缩的方法

摘要

本发明涉及一种用于控制磁致电阻传感器的自由层中的磁致伸缩的方法。沉积被钉扎层结构且然后沉积优选为Cu的间隔层。氧被引入到该间隔层中。氧可以在间隔层的沉积期间或者在已经沉积间隔层之后被引入。然后自由层结构沉积在间隔层之上。帽层例如Ta可以沉积在自由层结构之上。该传感器被退火从而设置被钉扎层的磁化。在退火该传感器的工艺中氧迁移到间隔层外。退火之后,没有显著量的氧存在于间隔层或自由层结构中,仅微量的氧存在于Ta帽层中。尽管没有氧存在于间隔层或自由层中,但是制造期间氧的引入使得完成的自由层具有较低磁致伸缩(即更大的负磁致伸缩)。

著录项

  • 公开/公告号CN100517466C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-07-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 日立环球储存科技荷兰有限公司;

    申请/专利号CN200610171216.X

  • 发明设计人 太龙平;杜利普·A·韦利皮蒂亚;

    申请日2006-12-21

  • 分类号G11B5/39(20060101);G01R33/09(20060101);H01L43/08(20060101);H01L43/12(20060101);

  • 代理机构11105 北京市柳沈律师事务所;

  • 代理人张波

  • 地址 荷兰阿姆斯特丹

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:33

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2011-03-09

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):G11B 5/39 授权公告日:20090722 终止日期:20100121 申请日:20061221

    专利权的终止

  • 2009-07-22

    授权

    授权

  • 2007-08-22

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-06-27

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号