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用于极化散射矩阵测量的无源极化校准体

摘要

本发明公开了一种用于极化散射矩阵测量的无源极化校准体。该校准体具有不同于二面角反射器等传统校准体的极化散射特性,其极化散射矩阵的两个同极化分量既不相同,也不互为相反数。采用单个该无源极化校准体,并测得其绕雷达视线旋转多个角度下的极化散射数据,可以求解得到一般非互易极化测量系统的误差参数并实现精确极化校准,从而解决传统二面角反射器用于极化校准测量时导致病态方程、仅对单个校准体测量无法实现非互易系统的极化校准的问题。该无源极化校准体不但具有通用性好、适用范围广的优点,同时,由于仅需对单个校准体进行测量,因此可大大提高极化测量与校准效率,减小因测量中对多个校准体置换等带来的极化校准不确定度。

著录项

  • 公开/公告号CN108646226B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-03-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN201810441875.3

  • 发明设计人 许小剑;吴鹏飞;

    申请日2018-05-10

  • 分类号G01S7/40(20060101);G01S7/02(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人杨学明;成金玉

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 13:16:35

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