用于测量电子产品的治具及方法

摘要

一种用以测量多个电子产品的测量治具界定出第一及第二测量开槽，该第一测量开槽具有至少一第一比对尺寸，该比对尺寸为该电子产品的尺寸规格上限值，以供电子产品以一置放方向置入，与该第一比对尺寸进行比对判测，且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半，以及该第二测量开槽具有至少一第二比对尺寸，该比对尺寸为该电子产品的尺寸规格下限值，以供电子产品与该第二比对尺寸进行比对判测，且该测量开槽与该置放方向平行的深度小于该电子产品宽度的一半。