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公开/公告号CN110660817B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-04
原文格式PDF
申请/专利权人 台湾积体电路制造股份有限公司;
申请/专利号CN201910184019.9
发明设计人 吴明锜;方俊杰;苏柏菖;杜建男;叶玉隆;林坤佑;陈世雄;
申请日2019-03-12
分类号H01L27/146(20060101);
代理机构11409 北京德恒律治知识产权代理有限公司;
代理人章社杲;卢军峰
地址 中国台湾新竹
入库时间 2022-08-23 13:12:30
机译: 具有防止暗电流的气隙的浅沟槽隔离结构,使用该浅沟槽隔离结构的CMOS图像传感器和制造CMOS图像传感器的方法
机译: 具有气隙的浅沟槽隔离结构,使用该浅沟槽隔离结构的CMOS图像传感器及其制造方法
机译: 具有较高杂质掺杂浓度的第二杂质区的隔离结构围绕第一杂质区及其形成方法,以及包括该隔离结构的图像传感器和制造该图像传感器的方法
机译:沟槽基片上具有烧结芯吸复合结构的微型热管的形成方法
机译:浅沟槽隔离效应对CMOS图像传感器源跟随器MOSFET闪烁噪声的影响
机译:浅沟槽隔离对CMOS图像传感器中源极跟随器晶体管的低频噪声特性的影响
机译:光纤传感器的性能和精度以及数字图像在测量混凝土结构应变和裂缝宽度中的相关性
机译:基于结构的设计和结构活动关系研究开发新型宽范围的抗裂缝剂剂
机译:深沟槽隔离和倒金字塔结构用于通过仿真提高CMOS图像传感器中光电二极管的光学效率
机译:深沟隔离和倒金字塔阵列结构,用于通过模拟提高CMOS图像传感器中光电二极管的光学效率
机译:用于桥梁结构裂缝检测的同轴电缆传感器和传感仪器