一种可应用于物体线性位移或转角位置的检测方法

摘要

本发明涉及一种可应用于物体线性位移或转角位置的检测方法，在本发明中，位置检测的精度由离散化数列的项差决定，可以根据所需精度，来确定离散化数列的相关特征，如项差，项数等,本发明将被测量物体和检测单元发生相对位移或相对转动时，检测单元输出余弦及正弦信号，在一个周期内信号的相位角和位移或转角成正比，通过建立构造函数F（x）及H（x），F（x）∝x且有F（x+kπ/4）=F（x）+k×F（π/4），H（x）∝tanx，在x∈[0,π/4]内将F（x）及H（x）离散化且一一对应，F（x）离散化后记为数列A，H（x）离散化后记为数列B，项数为N时，令F（π/4）=aN，H（π/4）=bN。