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一种芯片测试方法和一种用于测试多个场发射光源的仪器

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摘要

本发明总体涉及一种操作多个场发射光源的方法，具体地说是用于对以基于芯片的方式制造的多个场发射光源执行的检测程序。本发明还涉及一种相应的检测系统。

公开/公告号CN110326080B

专利类型发明专利
公开/公告日2022-03-01

原文格式PDF
申请/专利权人光学实验室公司(瑞典);南洋理工大学;
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申请/专利号CN201880012761.5
发明设计人乔纳斯·迪伦;希尔米沃尔坎·德米尔;伊杰库马尔·夏尔马;斯威蒂姆·谭;
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申请日2018-02-08
分类号H01J9/42(20060101);G01R31/24(20060101);H01J63/04(20060101);H01J63/06(20060101);
代理机构33100 浙江杭州金通专利事务所有限公司;
代理人刘晓春
地址瑞典乌普萨拉市佛丁斯大道32B
入库时间 2022-08-23 13:11:25

1. 一种芯片测试方法和一种用于测试多个场发射光源的仪器 [P] . 中国专利： CN110326080B . 2022.03.01
2. 一种芯片测试方法和一种用于测试多个场发射光源的仪器 [P] . 中国专利： CN110326080A . 2019-10-11
3. A CHIP TESTING METHOD AND AN APPARATUS FOR TESTING OF A PLURALITY OF FIELD EMISSION LIGHT SOURCES [P] . 美国专利： US2020236753A1 . 2020-07-23

机译：一种用于测试多个场致发射光源的芯片测试方法和装置
4. A CHIP TESTING METHOD AND AN APPARATUS FOR TESTING OF A PLURALITY OF FIELD EMISSION LIGHT SOURCES [P] . 欧洲知识产权局专利： EP3586351A1 . 2020-01-01

机译：一种用于测试多个场致发射光源的芯片测试方法和装置
5. A CHIP TESTING METHOD AND AN APPARATUS FOR TESTING OF A PLURALITY OF FIELD EMISSION LIGHT SOURCES [P] . 世界知识产权组织专利： WO2018151645A1 . 2018-08-23

机译：一种用于测试多个场致发射光源的芯片测试方法和装置