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一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统

摘要

本发明提供一种基于最近邻算法的液晶屏幕缺陷检测方法和系统。该方法包括以下步骤:根据采集到的已知无缺陷液晶屏幕的图像计算图像的角点信息;根据所述角点信息计算非缺陷角点位置的统计特性;根据所述非缺陷角点位置的统计特性,利用最近邻算法计算待检测屏幕的缺陷位置。完成对液晶屏幕的缺陷检测。本发明基于视觉图像处理技术,通过最近邻算法实现对液晶屏幕的缺陷检测,精度高,速度快,鲁棒性好。

著录项

  • 公开/公告号CN113808136B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中导光电设备股份有限公司;

    申请/专利号CN202111374008.0

  • 申请日2021-11-19

  • 分类号G06T7/00(20170101);G06T7/73(20170101);G06V10/44(20220101);G06V10/764(20220101);G06K9/62(20220101);

  • 代理机构44448 广州维智林专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人赵晓慧

  • 地址 526238 广东省肇庆市高新区北江大道20号之一

  • 入库时间 2022-08-23 13:08:29

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