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一种用于斜视星载SAR地平面二维分辨率评估方法

摘要

本发明公开了一种用于斜视星载SAR地平面二维分辨率评估方法,包括如下步骤:步骤1、根据卫星俯仰向视角和方位向视角确定成像时的地面瞄准点的三维坐标;步骤2、根据成像起止时刻的卫星轨道信息和地面瞄准点坐标,建立斜距平面的法向矢量;步骤3、在地面瞄准点处,根据地球椭球模型建立局部切平面,该切平面即为在常规SAR成像中斜距‑地距转化的地平面;步骤4、根据照射中心时间的卫星位置和瞄准点坐标,构建斜距矢量;步骤5、根据成像几何得到斜距矢量在地平面上的投影,将投影矢量与斜距矢量求幅度之比得距离向分辨率的投影因子;步骤6、根据斜距平面法向矢量和斜距矢量得到斜距平面的方位分辨单元矢量,计算得到方位向分辨率的投影因子。

著录项

  • 公开/公告号CN113917418B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院空天信息创新研究院;

    申请/专利号CN202111526812.6

  • 发明设计人 张衡;王伟;梁达;邓云凯;王宇;

    申请日2021-12-15

  • 分类号G01S7/40(20060101);G01S13/90(20060101);

  • 代理机构11251 北京科迪生专利代理有限责任公司;

  • 代理人金怡

  • 地址 100190 北京市海淀区北四环西路19号

  • 入库时间 2022-08-23 13:08:28

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-22

    授权

    发明专利权授予

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