一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质

摘要

本发明涉及人工智能领域，揭露一种面板缺陷区域检测方法、装置、电子设备及存储介质，所述方法包括：获取面板图像及预先在所述面板图像中设置的查找区域；标记所述面板图像的定位区域，并识别所述定位区域的定位坐标；根据所述定位坐标，在所述查找区域中搜索所述定位区域的相似区域，并对所述相似区域进行仿射变换，得到目标区域；将所述定位区域和所述目标区域进行裁剪，得到所述面板图像的待检测区域；将所述待检测区域与预设的标准区域进行缺陷差分处理，得到差分图像，根据所述差分图像，识别所述待检测区域的缺陷区域。本发明可以实现面板缺陷区域的快速定位，提高面板缺陷区域的检测通用性。