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一种基于可控微界面消除法处理的MAPbI3网状纳米线及其制备方法和应用

摘要

本发明涉及一种基于可控微界面消除法处理的MAPbI3网状纳米线及其制备方法和在光电探测器中的应用。所述MAPbI3网状纳米线是利用可控微界面消除法处理得到的。本发明方法有效地消除了MAPbI3网状纳米线中的微界面,实现了高性能和高稳定性的MAPbI3网状纳米线光电探测器的制备,制得的探测器响应度、探测度、响应时间、以及线性检测范围等性能参数与基于MAPbI3单根纳米线或者MAPbI3纳米线阵列所制备的光电探测器的性能相近,在某些方面还要更优。另外,本发明制备过程简单易重复,制备成本低廉,适合大面积大规模工业化生产,为钙钛矿光电器件的商业化发展提供了强大的动力。

著录项

  • 公开/公告号CN110265553B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 湖北大学;

    申请/专利号CN201910567449.9

  • 发明设计人 王浩;吴定军;周海;张军;马国坤;

    申请日2019-06-27

  • 分类号H01L51/48(20060101);H01L51/42(20060101);B82Y40/00(20110101);

  • 代理机构11401 北京金智普华知识产权代理有限公司;

  • 代理人杨采良

  • 地址 430062 湖北省武汉市武昌区友谊大道368号

  • 入库时间 2022-08-23 13:07:11

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