一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法及系统

摘要

本发明基于功能测试的光学SOC芯片测试系统，包括上位机系统以及硬件测试系统，所属硬件测试系统包括通信模块以及检测模块，所述检测模块由供电单元、PMU测试单元、FPGA功能测试单元、继电器矩阵单元以及光源控制单元组成；前述各组成单元上行通过总线与上位机系统连接，下行与待测试的光学传感器SOC芯片连接，硬件测试系统主要负责直流参数测试和感光逻辑测试。一种基于功能测试的光学SOC芯片测试方法，采用恒定电压、电流源为被测试器件施加精确的恒定电压或恒定电流；硬件上采用模块化结构，逻辑上利用FPGA功能测试单元针对功能进行测试，实现对光学SOC芯片的物理功能性测试和感光逻辑测试，测试成本大大低于传统混合信号测试系统。