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用于电子密度扰动定域测量的双波段多波束微波诊断系统

摘要

本发明属于磁约束受控核聚变领域等离子体诊断,涉及一种用于电子密度扰动定域测量的双波段多波束微波诊断系统,是测量磁约束等离子体中湍流和高能粒子模的重要技术方法。本发明通过梳妆谱源和倍频技术将两个波段两部分子系统集成到一起从而实现跨波段输出;通过极化器将两波段微波分开并分别单独处理从而简化系统结构;优点在于,该集成系统能够同时发射两个波段频率范围内多个高功率平坦度的微波波束,可在径向方向上实现对等离子体电子密度扰动的多点定域测量。

著录项

  • 公开/公告号CN112566348B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-15

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 大连理工大学;

    申请/专利号CN202011386065.6

  • 发明设计人 王正汹;施培万;朱霄龙;

    申请日2020-12-01

  • 分类号H05H1/00(20060101);

  • 代理机构21200 大连理工大学专利中心;

  • 代理人梅洪玉;温福雪

  • 地址 116024 辽宁省大连市甘井子区凌工路2号

  • 入库时间 2022-08-23 13:06:47

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-15

    授权

    发明专利权授予

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