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公开/公告号CN112666172B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-11
原文格式PDF
申请/专利权人 北京理工大学;
申请/专利号CN202011386354.6
发明设计人 赵维谦;杨帅;王允;邱丽荣;
申请日2020-12-01
分类号G01N21/892(20060101);
代理机构11639 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人张利萍
地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号
入库时间 2022-08-23 13:05:41
法律状态公告日
法律状态信息
法律状态
2022-02-11
授权
发明专利权授予
机译: 色共焦光谱两束干涉测量装置,例如微轮廓测量,在光路中将半透明镜和法布里-珀罗干涉仪连接到色共焦光谱两光束干涉仪上
机译: 共焦光学系统光圈位置检测方法,共焦光学系统光圈位置检测装置,共焦光学系统光圈位置控制装置,光学头装置和光学信息处理装置
机译: 工作面缺陷检测装置和检测方法,工作面检查系统及程序
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机译:干涉升力面结构的非定常跨声速流动计算