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差动共焦定面干涉靶丸外表面缺陷检测方法与装置

摘要

本发明涉及差动共焦定面干涉靶丸外表面缺陷检测方法及装置,属于光学成像与检测技术领域。该方法利用差动共焦光强响应曲线的过零点精确定位靶丸(被测面)和相机(探测面)的轴向位置,以此实现外表面准确、自动对焦成像;在干涉显微光路中采用短相干光源和球面参考镜产生外表面零位干涉图;然后利用移相干涉技术从外表面零位干涉图中测得外表面缺陷分布。本发明利用差动共焦技术的精确定位特性来为靶丸和相机的轴向位置装调提供了更为准确的调整判断依据,进而有效提高了传统干涉显微方法的外表面对焦、检测的精度和效率,并为自动化检测提供了必要技术保障。本发明为大批量靶丸的外表面缺陷高精度、高效率、自动化检测提供新的技术途径。

著录项

  • 公开/公告号CN112666172B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-02-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京理工大学;

    申请/专利号CN202011386354.6

  • 发明设计人 赵维谦;杨帅;王允;邱丽荣;

    申请日2020-12-01

  • 分类号G01N21/892(20060101);

  • 代理机构11639 北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人张利萍

  • 地址 100081 北京市海淀区中关村南大街5号

  • 入库时间 2022-08-23 13:05:41

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2022-02-11

    授权

    发明专利权授予

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