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公开/公告号CN109884052B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-02-01
原文格式PDF
申请/专利权人 哈尔滨工业大学;
申请/专利号CN201910045336.2
发明设计人 王伟波;吴必伟;刘俭;谭久彬;
申请日2019-01-17
分类号G01N21/84(20060101);
代理机构
代理人
地址 150001 黑龙江省哈尔滨市西大直街92号
入库时间 2022-08-23 13:04:11
机译: 基于CCD的共聚焦显微镜光学探测器
机译: 具有多个探测器的扫描电子显微镜及基于多个探测器的成像方法
机译:使用CCD相机作为检测器的共聚焦扫描显微镜中的减影成像
机译:基于耦合机制的新型成像方法,用于扫描电化学显微镜以探测微通道末端的电场分布
机译:使用基于电子倍增CCD的探测器进行快速X射线/γ射线成像
机译:用于X射线显微断层成像的CCD与闪烁磷光体耦合的探测量子效率分析
机译:桌面上的纳米级EUV显微镜:基于具有高谐波照明的相干衍射成像的普通透射和反射模式显微镜
机译:基于谐波的非接触式压痕法用于使用谐波运动成像(HMI)测量生物组织的弹性的方法
机译:基于耦合机理的扫描电化学显微镜的成像方法,用于探测微通道末端电场分布的电化学显微镜
机译:用于衍射实验的基于CCD的成像x射线探测器的表征。