存储器的内建自测试系统

摘要

一种存储器的内建自测试系统，包括：N个存储器接口模块及一一对应耦接的N个存储器，且N个存储器接口模块相同，其中：第i个存储器接口模块包括：自测试控制器、第一选择器、第二选择器、第三选择器、第四选择器、第五选择器及自测试结果寄存器，所述第四选择器适于接收外部控制信号，并根据所述外部控制信号选择输出所述第四选择器的第一输入端的数据或者所述第四选择器的第二输入端的数据；所述第五选择器适于接收外部控制信号，并根据所述外部控制信号输出所述第五选择器的第一输入端的数据或者所述第五选择器的第二输入端的数据。采用上述方案，能够减小存储器的内建自测试系统对芯片的面积的占用，进而减小芯片面积，降低芯片的成本。