公开/公告号CN106855501B
专利类型发明专利
公开/公告日2022-01-25
原文格式PDF
申请/专利权人 台湾超微光学股份有限公司;
申请/专利号CN201510899427.4
申请日2015-12-09
分类号G01N21/25(20060101);G01N21/01(20060101);
代理机构11315 北京国昊天诚知识产权代理有限公司;
代理人李有财
地址 中国台湾新竹市东区新庄里关新路27号9楼之5
入库时间 2022-08-23 13:02:37
机译: 为了连续进行曝光测量而进行控制的电子电路,使用该电子电路的光谱仪以及该光谱仪的测量方法
机译: 电子电路,使用相同光谱仪的光谱仪和测量方法
机译: 用半导体二极管激光光谱仪感测气体的方法和激光光谱仪