模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法及测试设备

摘要

本发明提供的模拟光子晶体光纤受力状态下的测试方法，包括步骤如下：测试前先对光子晶体光纤试样进行检测，记录作为测试前的损耗初始值α1；将试样的一端固定在旋转臂上，并将试样的部分缠绕在绕线轮上，并将试样的两端接通至检测装置上；固定座将试样中间端固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α2；固定座与试样脱离接触，直线驱动器驱使旋转臂移动；将固定座将试样重新固定，旋转臂往复摆动，检测装置记录测试过程的传导过程中的损耗α3；测试结束，将试样取下，测试并记录试样传导过程中的损耗α4，该传导测试方法操作方便，便于光子晶体光纤模拟现实的传导状态。