等离子体发射光谱干扰校正方法

摘要

本发明属于光谱检测技术领域，特别涉及一种等离子体发射光谱干扰校正方法，根据校正光谱段20内干扰线B对应元素的其他特征谱线信息计算得到干扰线B的谱线强度，便能分解待分析光谱峰11，从而获得分析线A的谱线强度，完成光谱干扰的校正。本发明存在以下技术效果：基于等离子体发射光谱理论中同类型、同离子态各发射谱线的强度关系，能够准确地分解谱线，实现易受干扰谱线的发射强度的检出和计算，从而提高成分检测结果精度和检测元素范围，使LIBS技术的应用范围得到进一步扩展。