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评估波前测量质量的方法和实现该方法的系统

摘要

根据一个方面,本说明书涉及一种用于评估光学波前的测量质量的方法,所述测量借助于波前分析仪通过直接测量来获得,该方法包括:‑通过波前传感器获取(10)用于波前测量的光电信号,所述传感器包括二维检测器;‑基于所述光电信号确定(11)表征所述光电信号的寄生分量的参数;‑根据表征所述信号的寄生分量的所述至少一个参数来评估(12)波前的测量的品质因数;‑根据所述品质因数向用户显示(13)测量的质量水平。

著录项

  • 公开/公告号CN110546470B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 想象光学公司;

    申请/专利号CN201880022164.0

  • 发明设计人 格扎维埃·勒韦克;

    申请日2018-01-26

  • 分类号G01J9/00(20060101);A61B3/10(20060101);G01J9/02(20060101);

  • 代理机构31100 上海专利商标事务所有限公司;

  • 代理人陆嘉

  • 地址 法国奥尔赛

  • 入库时间 2022-08-23 13:00:20

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