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基于双流条件对抗生成网络的半监督高光谱数据分析方法

摘要

本发明涉及一种基于双流条件对抗生成网络的半监督高光谱数据分析方法,包括步骤:S1、获取高光谱样本数据;S2、图像分割,并将每个样本嵌入三维数据块;S3、划分训练样本集和预测样本集,并进行数据预处理,预测样本集也作为无标签样本加入训练;S4、构建基于双流条件对抗生成网络,包括双流结构的生成器网络、判别器网络和回归器网络,用于谱特征与空间形貌特征的提取与融合,所述生成器网络用于生成样本,所述判别器网络用于判别样本的真伪,所述回归器网络用于定量分析回归目标值的回归计算;S5、构建生成器网络、判别器网络和回归器网络的损失函数;S6、训练对抗生成网络;S7、采用训练好的对抗生成网络得到预测样本集的定量分析回归目标值。

著录项

  • 公开/公告号CN111626317B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2022-01-07

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 广东省科学院智能制造研究所;

    申请/专利号CN201910749961.5

  • 申请日2019-08-14

  • 分类号G06K9/62(20060101);

  • 代理机构44326 广州容大知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人刘新年

  • 地址 510070 广东省广州市先烈中路100号大院15号楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:54:39

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