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用于热处理腔室的高温测量过滤器

摘要

本文中所述的实施方式大体涉及在半导体基板的热处理期间的高温测量。更具体地,实施方式是关于用于热处理腔室的高温测量过滤器。在某些实施方式中,高温测量过滤器选择性地过滤选定的能量波长以改良高温计测量。高温测量过滤器可具有多种几何形状,这些几何形状可影响高温测量过滤器的功能。

著录项

  • 公开/公告号CN108598017B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 应用材料公司;

    申请/专利号CN201810278612.5

  • 申请日2014-02-11

  • 分类号H01L21/67(20060101);

  • 代理机构11006 北京律诚同业知识产权代理有限公司;

  • 代理人徐金国;赵静

  • 地址 美国加利福尼亚州

  • 入库时间 2022-08-23 12:53:41

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