判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法

摘要

本发明提供一种判断集成电路处理速度的测试系统与测试方法。该测试系统包括一时脉输出装置与一判断单元；所述时脉输出装置包括一正反器和一延迟模块。该测试方法利用集成电路所需延迟时间的长短来反映集成电路的处理速度。通过本发明，利用判断信号被致能的同时取得与集成电路处理速度具有正相关性的延迟时间，通过该延迟时间来反映出集成电路的处理速度，从而达到测试出集成电路处理速度的效果，并达到将具有不同处理速度的集成电路分类的效果。