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任意波形产生器验证平台

摘要

本发明涉及测试技术领域,公开了一种任意波形产生器验证平台,用于检测一待测物,包含一主机、一任意波形产生器、一测试环境、一示波器以及一波形资料库。该任意波形产生器耦接于该主机,用来根据该主机产生的一第一控制讯号,产生多个输入波形。该测试环境耦接于该任意波形产生器,用来接收该多个输入波形。该待测物安装于该测试环境中,用来根据该多个输入波形和该主机产生的一第二控制讯号,产生多个输出波形。该示波器耦接于该测试环境和该主机,用来根据该主机产生的一第三控制讯号,测量该多个输出波形。该波形资料库耦接于该主机,用来储存该多个输出波形。本发明可以来协助IC设计商进行更准确、全面的检测及故障分析。

著录项

  • 公开/公告号CN113640655B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-31

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 常州欣盛半导体技术股份有限公司;

    申请/专利号CN202111192946.9

  • 发明设计人 蔡水河;余承君;

    申请日2021-10-13

  • 分类号G01R31/3181(20060101);G06F30/367(20200101);

  • 代理机构32409 常州至善至诚专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人朱丽莎

  • 地址 213000 江苏省常州市武进区潞横路2288号

  • 入库时间 2022-08-23 12:53:10

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