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存储芯片兼容性测试方法、系统和测试主机

摘要

本申请涉及一种存储芯片兼容性测试方法、系统和测试主机。该方法包括:检测当前的测试芯片的兼容性测试是否完成;若完成,则检测测试板上安装的所有存储芯片是否测试完毕;若否,则向测试板发送切换指令,切换指令用于指示测试板断开当前的测试芯片与被测系统的连接,并将测试板上的一片待测存储芯片作为测试芯片与被测系统连接;向被测系统发送测试指令,测试指令用于指示被测系统对测试芯片执行兼容性测试的测试任务;获取与测试芯片对应的测试数据;返回检测当前的测试芯片的兼容性测试是否完成的步骤,直至测试板上安装的所有存储芯片测试完毕。实现了在兼容性测试中自动切换测试芯片,一次测试周期可对多片存储芯片的测试,提高了测试效率。

著录项

  • 公开/公告号CN108519938B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 珠海全志科技股份有限公司;

    申请/专利号CN201810332396.8

  • 发明设计人 廖博伦;

    申请日2018-04-13

  • 分类号G06F11/22(20060101);G06F11/26(20060101);

  • 代理机构44224 广州华进联合专利商标代理有限公司;

  • 代理人司佩杰;李双皓

  • 地址 519080 广东省珠海市高新区唐家湾镇科技二路9号

  • 入库时间 2022-08-23 12:53:03

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