堆叠式存储芯片的在系统测试方法

摘要

本论文的主要工作是设计一个系统平台，模拟堆叠式存储芯片的客户模型，测试和分析芯片的在系统功能及性能。论文首先介绍了堆叠式芯片的技术原理以及不同存储芯片的特性和他们分别的测试方法，陈述和分析了当前的存储系统模型和客户应用模型。通过对NOR/NANDFLASH，SRAM，DRAM，PSRAM等的不同应用，和对个人手持设备，数码相机，手机，机顶盒等客户系统的研究，列举了各种可能的存储系统框架。明确了复杂系统中，多个存储芯片，不同类型存储芯片共存的必要性和复杂性。多存储芯片的堆叠式封装是这种复杂存储系统的最佳解决方案之一，而由此引起的完整高效的系统测试是一个急需解决的问题。　　本论文随后叙述了存储芯片在设计，生产，系统集成阶段所需要分析收集的各种AC/DC以及逻辑功能参数，和对应的基本测试方法。又从软件和系统角度论述了系统测试对硬件平台配置，软件支持包，测试接口设计方面的各种要求。　　论文的主体部分，按照系统测试的目的和要求，对硬件和软件系统的不同模块进行了详细的设计，确定了这个测试系统的整个架构和测试方法。在硬件结构上，将对整个平台的要求从多个方面进行了论述，处理器，存储总线和以及芯片电源管理等。在软件框架上将设计分为系统硬件驱动模块，测试命令解释模块，存储芯片功能测试模块。对应存储芯片的测试，建立了三种客户模型，拷贝访问模型，极限并行交叉访问模型，和随机多进程访问模型。通过以上模型在系统上的具体实现，分析和收集了复杂情况下，存储器系统的性能，功耗，时序。　　论文最后论述了本测试方法在不同嵌入式系统上的可实现性，以及不同微处理器(控制器)对于本测试方法在实现上的影响。

目录

文摘

英文文摘

第一章引言

第二章存储芯片工作原理及测试方法概述

一：SRAM/CRAM的工作原理及测试方法

二：DRAM的工作原理及测试

三：NOR FLASH的工作原理及测试

四：NAND FLASH的工作原理及测试

五：其他存储器技术

六：存储系统模型

第三章堆叠式存储器测试的设计要求及其测试平台

第四章软件设计原理

一：软件程序结构

二：命令解释模块

三：系统配置模块

四：产品设置模块

第五章在Xscale系统上的设计实现

一：Xscale嵌入式平台

二：O/S BSP的移植

三：串口驱动程序

第六章堆叠存储器的测试

一：SnD客户模型

二：多线程访问模型

三：并行访问模型

四：并行擦除的实现

五：最大电流的测试

第七章总结

参考文献

致谢

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