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多层大规模集成电路电磁仿真失效频率确定方法及系统

摘要

本申请公开了多层大规模集成电路电磁仿真失效频率确定方法及系统,首先获取集成电路的介质类型和基于版图特征尺寸得到的剖分网格的尺寸范围,然后构建集成电路全波电磁仿真的矢量有限元系统方程组,得到不同所述介质类型下的所述方程组的刚度矩阵与质量矩阵,然后基于所述尺寸范围得到不同矩阵元素之间的与尺寸相关的量级比,最后获取仿真运算时采用的机器精度,基于所述机器精度和所述量级比算出集成电路的失效频率。该方法能够基于单元尺寸计算出全波分析的失效频率,由此获取到在何种频率下的电磁场分析是必定不准确的,为后续低频下的准确计算提供支持,使得彻底解决现有求解器在针对集成电路的低频情况下的失效问题成为可能。

著录项

  • 公开/公告号CN113609816B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-12-28

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京智芯仿真科技有限公司;

    申请/专利号CN202111165800.5

  • 发明设计人 王芬;

    申请日2021-09-30

  • 分类号G06F30/398(20200101);

  • 代理机构11952 北京星通盈泰知识产权代理有限公司;

  • 代理人李筱

  • 地址 100085 北京市海淀区信息路甲28号B座(二层)02B室-350号

  • 入库时间 2022-08-23 12:52:16

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