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机器学习装置、机器学习系统以及机器学习方法

摘要

本发明涉及一种机器学习装置、机器学习系统以及机器学习方法,在考虑了光学部件的用途的基础上进行光学部件的良好与否判定。机器学习装置(10)具备:状态观测单元(11),其取得拍摄光学部件(21)而得到的图像数据和与上述光学部件(21)的用途相关的数据来作为输入数据;标签取得单元(12),其取得与上述光学部件(21)的良好与否判定相关的评价值来作为标签;以及学习单元(13),其将上述状态观测单元(11)取得的输入数据与上述标签取得单元(12)取得的标签的组合作为训练数据来进行有监督学习,由此构筑用于判定上述光学部件(21)的良好与否的学习模型。

著录项

  • 公开/公告号CN109420859B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-26

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 发那科株式会社;

    申请/专利号CN201810975958.0

  • 发明设计人 久保嘉孝;

    申请日2018-08-24

  • 分类号B23K26/70(20140101);B23K26/064(20140101);B23K26/38(20140101);G01M11/00(20060101);

  • 代理机构11243 北京银龙知识产权代理有限公司;

  • 代理人范胜杰;文志

  • 地址 日本山梨县

  • 入库时间 2022-08-23 12:52:05

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