一种MLC芯片的错误率分析方法、系统及装置

摘要

本发明公开了一种MLC芯片的错误率分析方法、系统及装置，从MLC芯片中选取数据块，并将数据块进行擦写操作；待擦写操作完成后，读取数据块的每个第一页和第二页对应的每组双比特位，并确定每组双比特位的比特状态；统计目标页对应的所有双比特位在表示数据写入错误的目标比特状态下的第一总数量，以此得到目标页在目标比特状态下的第一错误率；统计数据块对应的所有双比特位在目标比特状态下的第二总数量，以此得到数据块在目标比特状态下的第二错误率，以基于第一/第二错误率分析芯片性能。可见，本申请可对MLC芯片的具体数据块和页进行错误率分析，且可在不同比特状态下分析具体数据块和页的错误率，有利于MLC芯片的性能全面分析。