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基于光纤光栅技术的土工格栅受力的直接测量方法

摘要

本发明公开了一种基于光纤光栅技术的土工格栅受力的直接测量方法。本方法包含两个步骤:光纤光栅半紧套结构的封装以及土工格栅受力参数直接测量的标定方法;结合不同规格与粗糙度的套管,实现半紧套封装结构,在保证变形协调性的同时,保护光栅;通过一种用于测得土工格栅受力参数的标定方法,通过半紧套传感结构土工格栅的系统拉伸试验,实现受力参数的直接测量;对光栅区段的套管进行粗糙度处理,实现格栅表面与护套间的界面相容性。本发明在土工格栅受力直接测量的基础上,提高光纤使用寿命,防止结构胶对格栅强度的改变,提高套管与土工格栅表面间紧紧咬合的界面相容性,保证套管与土工格栅的协调变形,易于操作、成本低廉、便于推广使用。

著录项

  • 公开/公告号CN110031138B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-05

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 上海大学;

    申请/专利号CN201910331200.8

  • 申请日2019-04-24

  • 分类号G01L1/24(20060101);

  • 代理机构31205 上海上大专利事务所(普通合伙);

  • 代理人陆聪明

  • 地址 200444 上海市宝山区上大路99号

  • 入库时间 2022-08-23 12:45:39

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