首页> 中国专利> 一种紧凑型双光路单像素成像系统及不均匀光源校正方法

一种紧凑型双光路单像素成像系统及不均匀光源校正方法

摘要

本发明公开了一种紧凑型双光路单像素成像系统及不均匀光源校正方法,对称设置两套由平面反射镜、光束收集透镜和单像素光电探测器组成的光强收集系统,利用对称双光路进行差分测量,仅通过一次测量即可得到差分后的数字信号,这样,在弱化噪声影响和抑制光源波动的同时还能提高差分测量的效率;并且,本发明提供的上述紧凑型双光路单像素成像系统,还能实现宽谱光源照明下同时成像,同时重建出两个不同波段下的图像;此外,利用平面反射镜将DMD调制后的光反射到光束收集透镜上,可以充分地配合DMD,不仅可以解决因DMD反转角度太小导致光束收集透镜收集的光信息不完整从而影响图像恢复质量的问题,还可以使整个系统的结构更加紧凑。

著录项

  • 公开/公告号CN112866532B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-11-02

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京航空航天大学;

    申请/专利号CN202110046133.2

  • 申请日2021-01-14

  • 分类号H04N5/225(20060101);H04N5/232(20060101);G03B15/02(20210101);

  • 代理机构11668 北京航智知识产权代理事务所(普通合伙);

  • 代理人黄川;史继颖

  • 地址 100191 北京市海淀区学院路37号

  • 入库时间 2022-08-23 12:43:01

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号