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个数分析方法、个数分析装置以及个数分析用记录介质

摘要

[课题]本发明提供能够高精度地分析粒子状或者分子状的分析物的类别所相应的个数乃至个数分布的个数分析方法、个数分析装置以及个数分析用记录介质。[解决手段]相应于检体的粒子的贯通孔(12)的通过,以由纳米孔设备(8)检出了的粒子通过检出信号的数据组为基础,通过执行电脑控制程序,根据作为个数导出机制的粒子种类分布推定程序的执行,从基于将作为该粒子通过检出信号所获得的与粒子通过对应的脉冲状信号的波形形态的特征进行表示的特征量的数据组进行概率密度推定,能够导出粒子类别的个数。

著录项

  • 公开/公告号CN108474726B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-22

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 艾珀尔有限公司;

    申请/专利号CN201680075604.X

  • 申请日2016-12-19

  • 分类号G01N15/12(20060101);C12M1/34(20060101);C12Q1/04(20060101);G01N27/00(20060101);

  • 代理机构11590 北京市领专知识产权代理有限公司;

  • 代理人陈有业

  • 地址 日本东京都涩谷区樱丘町1番26号蓝塔15楼

  • 入库时间 2022-08-23 12:39:29

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