嵌入式存储器的测试方法、装置、设备和计算机存储介质

摘要

本发明公开一种嵌入式存储器测试方法，所述嵌入式存储器包括eMMC和DDR，其中，该嵌入式存储器测试方法包括：接收对所述eMMC进行测试的第一信号指令，根据所述第一信号指令控制所述eMMC开始测试，并反馈相应的测试信号；接收根据所述测试信号所生成的对所述DDR进行测试的第二信号指令，根据所述第二信号指令控制所述DDR开始测试；获取所述eMMC和DDR的测试结果，并根据所述eMMC和DDR的测试结果判定所述嵌入式存储器是否合格。本发明的嵌入式存储器测试方法可同时对eMMC和DDR进行测试，节省测试时间，提高测试效率以及降低成本支出。此外，本发明还公开一种嵌入式存储器测试装置、设备和计算机存储介质。