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化合物半导体电路应用中的瞬态过应力保护的装置和方法

摘要

公开了化合物半导体电路应用中的瞬态过应力保护的装置和方法。本文提供了用于化合物半导体保护钳位器的装置和方法。在某些配置中,化合物半导体保护钳位器包括电阻器‑电容器(RC)触发网络和金属‑半导体场效应晶体管(MESFET)钳位器。RC触发网络检测ESD/EOS事件何时存在于第一节点和第二节点之间,并且响应于检测到ESD/EOS事件而激活MESFET钳位器。当MESFET钳位器被激活时,MESFET钳位器在第一和第二节点之间提供低阻抗路径,从而提供ESD/EOS保护。当被禁用时,MESFET钳位器在第一和第二节点之间提供高阻抗,并且因此以低泄漏电流和小静态功率耗散操作。

著录项

  • 公开/公告号CN107104102B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-10-08

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 美国亚德诺半导体公司;

    申请/专利号CN201710097800.3

  • 发明设计人 S·帕萨萨拉希;J·A·塞尔瑟多;

    申请日2017-02-23

  • 分类号H01L27/04(20060101);

  • 代理机构11038 中国贸促会专利商标事务所有限公司;

  • 代理人欧阳帆

  • 地址 美国马萨诸塞州

  • 入库时间 2022-08-23 12:36:10

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