首页> 中国专利> 一种获取高分辨率测深侧扫声纳阵的阵元组合方法

一种获取高分辨率测深侧扫声纳阵的阵元组合方法

摘要

本发明涉及一种利用波达方向估计技术,获取高分辨率测深侧扫声纳阵的阵元组合方法,称它为多子阵子空间拟合法。本发明表明,在声纳阵元数一定的情况下,阵元间有互耦或没有互耦时,均存在一种子阵对的构成方式,它的相位估计标准差最小。本发明克服线阵元间互耦影响引起的声纳阵相位误差,在阵元数给定的情况下,获得子阵数和每个子阵包含的线阵元数的优化组合,提高声纳的测深精度。

著录项

  • 公开/公告号CN100454037C

    专利类型发明授权

  • 公开/公告日2009-01-21

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 中国科学院声学研究所;

    申请/专利号CN200610083128.4

  • 发明设计人 朱维庆;刘晓东;徐文;

    申请日2006-06-05

  • 分类号G01S15/89(20060101);

  • 代理机构11280 北京泛华伟业知识产权代理有限公司;

  • 代理人高存秀

  • 地址 100080 北京市海淀区北四环西路21号

  • 入库时间 2022-08-23 09:02:00

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2009-01-21

    授权

    授权

  • 2007-03-21

    实质审查的生效

    实质审查的生效

  • 2007-01-24

    公开

    公开

相似文献

  • 专利
  • 中文文献
  • 外文文献
获取专利

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号