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公开/公告号CN111366253B
专利类型发明专利
公开/公告日2021-09-17
原文格式PDF
申请/专利权人 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所;
申请/专利号CN201811597427.9
发明设计人 张新;刘洋;付强;史广维;赵尚男;
申请日2018-12-26
分类号G01J5/52(20060101);
代理机构44316 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙);
代理人吴乃壮
地址 130033 吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
入库时间 2022-08-23 12:29:24
机译: X射线CT系统的校正系数计算方法,包括放置幻像和获取视图的步骤,以及计算校正系数,光束硬化后处理方法和X射线CT系统
机译: 具有基于空间能量轮廓数据的非均匀性校正的打印头,用于打印头的非均匀性校正的方法以及用于测量打印头中的空间能量轮廓数据的设备
机译: 具有基于空间能量特征数据的非均匀性校正的打印头,用于打印头的非均匀性校正的方法以及用于测量打印头中的空间能量特征数据的装置
机译:一种基于小波分解的多尺度非均匀性校正方法,对未冷却的长波红外相机引导滤波
机译:红外焦平面阵列非均匀性校正的鲁棒方法
机译:微辐射热计红外探测器基于参考的非均匀性校正方法的测试和评估
机译:基于总变化方法的红外焦平面阵列的非均匀性校正
机译:用于红外焦平面阵列传感器中非均匀性校正的卡尔曼滤波方法。
机译:基于中值场景的机载红外目标检测系统非均匀性校正方法
机译:基于中值的基于场景的空气传播的非均匀性校正方法,用于机载红外点目标检测系统
机译:真空紫外吸收系数测量中的散射光和其他校正:系统方法