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一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法

摘要

本发明涉及一种用分光光度计测量素面镭射母版光栅常数的方法。选择一种几何测量条件为45/0,环形光源照明的颜色测量仪器;选取待测试素面镭射母版上的任一位置,将其作为测量区域;保持颜色测量仪器测量孔径与测量点的相对位置不变,测量素面镭射母版的光谱能量信息;将采集到的光谱能量信息在可见光范围内绘制光谱能量分布曲线图,分析绘制的光谱能量分布曲线的形状和峰值波长出现的位置;结合光栅方程,计算得到待测试素面镭射母版的光栅常数。该方法能在没有高倍放大镜和多角度分光光度计的情况下能通过测量的任意一个位置一个角度的光谱能量信息,快速、准确计算出素面镭射母版的光栅常数,在实际生产中具有重要意义。

著录项

  • 公开/公告号CN109709053B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2021-09-14

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 北京印刷学院;

    申请/专利号CN201910041825.0

  • 发明设计人 黄敏;习永惠;李修;刘瑜;

    申请日2019-01-16

  • 分类号G01N21/31(20060101);G01M11/02(20060101);

  • 代理机构11237 北京市广友专利事务所有限责任公司;

  • 代理人耿小强

  • 地址 102600 北京市大兴区兴华大街二段1号

  • 入库时间 2022-08-23 12:28:43

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